Rasterkraftmikroskopie Schlagwort Schlagwort sensu stricto
JSON

URI https://d-nb.info/gnd/4274473-8
EntitätstypSchlagwort sensu stricto
GND-Nummer4274473-8
GND-SachgruppeElektrizität, Magnetismus, Optik 
Oberbegriff generischRastersondenmikroskopie 
Gleichwertighttps://data.bnf.fr/ark:/12148/cb13335446b  | http://id.loc.gov/authorities/subjects/sh94008704 
In Beziehung stehende Dewey-Dezimalklassifikation mit Determiniertheitsgrad 2http://dewey.info/class/570.282/  | http://dewey.info/class/502.82/ 
Varianter NameSFM | AFM | Scanning force microscopy | Atomic force microscopy | Kraftmikroskopie |
Siehe auchDeutsche Nationalbibliothek (DNB) Deutsche Nationalbibliothek (DNB)

Datenquelle: DNB Linked-Data-Service (RDF/XML, Turtle) | CC0

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